应用范围：
mcu、flash、ldo、adc、dac、logic等芯片参数的cp、ft测试
主要特点：
● 数字通道内建ppmu/频率测量单元
● source/capture向量
● 最高2gb 存储深度 scan向量
● alpg向量生成测试存储芯片
设备参数:
| 最大数据速率 | 200mbps |
| 最大数字通道 | 512（64*8） |
| 器件电源数量 | 32（16*2） |
| 器件电源参数 | -10v~ 10v/最大8a |
| 参数测量电压 | -1.5v~ 6.5v/精度10mv |
| 参数测量电流 | ±2ua/±20ua/±200ua±2ma/±50ma |
机械&电气规格：
| 机械规格 | |
外尺寸(测试头) | 520(w)*490 (l)*650(h)mm |
净重(测试头) | approx.70kg |
毛重(测试头) | approx.100kg |
| 电气规格 | |
能量功耗 | 3000w |
工作电压 | 200~240vac 50/60hz |
